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鐳測科技推出的LS600單頻激光干涉儀采用單頻測量技術，技術指標達到或優于國外產品同等水平。通過與不同的光學組件結合，可實現對線性、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何量的檢測，是高精度線性位移測量、數控機床校準、三坐標機校準、光學平臺校準的高效率量測工具。 系統組成…[詳情]

1、直線度測量原理 雙頻激光測頭輸出光經過直線度干涉鏡，按偏振態被分成兩束，以一定角度發散后入射到直線度反射鏡。光束從直線度反射鏡返回，沿新光路回到直線度干涉鏡后，合成一束回到光線接收端，進行干涉測量。通過檢測光路與干涉鏡和反射鏡之間的橫向位移，就可以得到導軌相對于激…[詳情]

1、垂直度測量原理 垂直度測量的主要采用同一個測量基準軸對兩個標稱正交坐標中的每一個軸測量直線度。對兩個直線度測量值進行比較，算出兩個軸之間的垂直度。共同的參考基準是直線度反射鏡的光學基準軸。需要注意的是，兩次測量直線度之間既不移動也不調整。兩次直線度測量過程中至少一…[詳情]

1、平行度測量原理 平行度測量由兩組直線度測量組成，兩次測量都以直線度反射鏡的光學軸為參考基準。需要說明的是，要得到兩軸的平行度，要在兩個正交平面內沿每個要被比較的軸測量直線度。因此，平行度或平行線測量實際是四次直線度測量，每次的步驟和方法同測量直線度一樣，如下圖所示…[詳情]

1、回轉軸測量原理利用鐳測激光干涉儀的角度測量附件，結合高精密轉臺，便可以對回轉軸進行校準。轉臺小巧輕便，單手可握住并可以多種方式安裝到機床上；支持內置電池或線纜供電，藍牙傳輸數據；內置準直光靶，提高對光效率；任意角度、任意間隔自動測量。 2、測量步驟和數據處理[詳情]

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩頻氦氖激光為光源，構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干…[詳情]

Information in English:LH1000 Dual-frequency Interferometer.pdfNonlinear error analysis and experimental measurement of Birefringence-Zeeman dual-frequency laser interferometer.pdf[詳情]

滿足計量檢測用戶更穩定、更高精度、更便利的使用要求； 以光刻機用激光干涉測量系統為基礎， 在保留高穩定性、高精度、高采樣速率卓越性能的同時， 將光源和測量信號接收處理單元集成在主機里， 一體化設計為用戶提供更加方便、易用、友好的使用體驗；[詳情]